L’observation et l’analyse élémentaire de surfaces et matériaux est disponible à différentes échelles au sein de la plateforme JANNuS-SCALP :

  • étude de la topographie de surface par AFM
  • observation de la surface d’un échantillon par MEB, et analyse élémentaire par spectroscopie des rayons X par dispersion d’énergie (EDX)
  • étude de la microstructure (défauts, bulles/cavités, précipités) et analyse élémentaire à l’échelle nanométrique par MET

Demande d’expériences